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异常检测技术已经被应用于确保解决网络安全和网联车辆安全性等挑战性问题。本文提出了这个领域的先前研究的分类。本文提出的分类学有3个总体维度，包括9个类别和38个子类别。从 中得出的主要观察结果是：真实世界的数据集很少被使用，大多数结果来自；V2V/V2I通信和车载通信不一起考虑；提议的技术很少针对基线进行评估；网联车辆的安全没有网络安全那么受关注。作者：GopiKrishnanRajbahadur1,AndrewJ.Malton2,AndrewWalenstein2andAhmedE.Hassan1I.介绍Velosa等人预测到22年将有25亿辆网联车辆上路。
半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
考虑到应力释放时的相互平衡关系及性体结构形式的约束，要想让残余应力释放，就要进行时效，这在实际中若采用自然时效法，则释放缓慢、周期长，常常是不可取的，需要人为缩短时间，一般要消除性体表面残余应力的方法是：真空回火和疲劳式脉动及共振。这样可大幅度地降低残余应力，在短时间内完成通常的长时间的自然时效，使组织性能更为稳定。其次，是应变片和粘接胶。影响应变片稳定性的是箔材本身，应变片的电阻合金种类很多，其中以康铜合金使用 广，它有较好的稳定性，高的疲劳寿命及小的电阻温度系数，是理 功率模块的降额曲线如所示，降额曲线会随着输入与输出电压的变化而发生微小的变化，因此必须查看特定设计相对应的曲线。一般来说，随着输出电压的增大，降额情况会变得稍差一些，因为总输出功率和总功率损耗也会增大。这一点可通过效率得到平衡，因为效率会随着输出电压的增大而提高，同时有助于降低功率损耗。 ，降额曲线基于一个特定的印刷电路板(PCB)，而此电路板通常是功率模块的评估模块(EVM)。< 22A等型号多产品校准器的交直流电压、交直流电流和电阻五项主要功能，使用的标准设备必须满足校准不确定度比率的要求，即被校仪器的不确定度与校准标准的不确定度之比率TUR至少大于4:1或者3:1。本文对这五项校准的测量不确定度的要求进行了讨论分析了使用不同标准设备时的校准不确定度和不确定度比率。分析表明，要完成这五项功能的校准，需要8508A高精度数字多用表，A40B精密分流器，5790A交流电压测量标准或者其他类似的标准仪器；在直流电压和电阻的几个校准调整点还需要应用校准边界保证（Guardbanding）技术或者使用其他的测量仪器。
从液晶仪表盘PCB图不难看出与传统仪表相比，全液晶仪表多了与显示相关的部件，比如：显示屏、GPU器、屏正负压、屏背光等。改用液晶屏幕后不仅增加了产品软硬件设计的难度，产品的EMC设计也成为产品设计的难点。由上图R/G/B液晶屏的架构可知，其主要包括时钟电路、数据电路、供电电路。在高速数字系统中，固定频率的时钟是主要的电磁干扰源之一。随着数据传输速率的提升，时钟频率越来越高，信号的边沿率（即上升时间和下降时间）也随之提高。
示波器的采样根据Nyquist采样定理，当对一个频率为f的带限信号进行采样时，采样频率SF必须大于f的两倍以上才能确保从采样值完全重构原来的信号。这里，f称为Nyquist频率，2f为Nyquist采样率。对于正弦波，每个周期至少需要两次以上的采样才能保证数字化后的脉冲序列能较为准确的还原原始波形。如果采样率低于Nyquist采样率则会导致混迭（Aliasing）现象。采样率SF2f，混迭失真和显示的波形看上去非常相似，但是频率测量的结果却相差很大，究竟哪一个是正确的？仔细观察我们会发现中触发位置和触发电平没有对应起来，而且采样率只有250MS/s，中使用了20GS/s的采样率，可以确定，显示的波形欺骗了我们，这即是一例采样率过低导致的混迭（Aliasing）给我们造成的像。
